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蔡司  CONTURA   从容应对各种挑战--无论现在还是未来

ZEISS CMM CONTURA广泛适用于各类型工件的测量，在大批量复杂零部件的生产过程中，快速获得清晰的测量结果至关重要。关键时刻，测量结果更须确凿无疑。来自蔡司的工业测量技术保证了高水平的质量控制。 ZEISS CMM CONTURA广泛适用于各类型工件的测量，固定平台桥式机体设计，融合***的DLC钻石涂层材质横梁和Z轴结构，结合机器移动时高稳定设计，兼之高精度扫描测头系统及众多技术优势，确保了系统的精度及动态性能；同时，高刚性结构提高了系统对于环境的抗干扰性能及长久的稳定性。

蔡司三坐标测量机

三坐标测头

如果不事先定义和校准测头，软件系统本身是无法获知所使用的探针类型和测量的角度。测量得到的数据结果自然是不正确的。因此，必须要对所使用的测头进行校验，使得软件知道所配置的探针情况，包括探针数量、方位、探针半径及探针球心的相互位置关系。并且了解所使用探针的精度状况，做到及时更换以确保实现测量的精度要求。

光学测头虽然有一些接触式测头无法提供的优势，但并无法完全替代接触式测头，其原因在于光线的可触及性不如接触式测头。测球的各个部位都可以去接触被测物体来采点，但光的传播是沿直线的，我们无法让光“转弯”，必然有一些特征让光线力所不能及，比如径深比很小的孔、或是需要L型测针的场合，接触式测头比光学测头更方便。

没有好的测头，究竟怎么选择还是取决于测量需求。在繁多的测头种类面前，应该不只是以预算为导向，也不一定要追求全能型的测头，找到真正合适的产品，才能既快又好地做好质量控制。